Zakres pracy laboratorium:
- Nowoczesne i bardzo dokładne metody pomiaru cech geomertii przy wykorzystaniu współrzędnościowej maszyny pomiarowej Zeiss Contura G2 i ramienia pomiarowego Faro Fusion.
- Inżynieria odwrotna złożonych geometrii przy zastosowaniu skanerów optycznych 3D Atos Compact i Core firmy GOM.
- Dynamiczne pomiary położenia, przemieszczenia, prędkości ciał lub układów przy użyciu systemu Pontos firmy GOM.
- Pomiar odkształceń, naprężeń przy wykorzystaniu systemu Aramis firmy GOM.
- Pomiar struktury powierzchni i jej parametrów za pomocą mikroskopu 3D Alicona.
[gdlr_heading tag=”h3″ size=”24px” font_weight=”normal”]Wyposażenie:[/gdlr_heading]
[gdlr_space height=”40px”]
[gdlr_frame type=”border” align=”left” caption=”Współrzędnościowa maszyna ZEISS Contura G2 „] [gdlr_image_link type=”image” image_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2021/05/TechnikISystemowPomiarowych-1-scaled.jpg” alt=” ” link_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2021/05/TechnikISystemowPomiarowych-1-scaled.jpg” target=”_blank” width=”100%”][/gdlr_frame]
Służy do bardzo dokładnych pomiarów przestrzennych części o złożonych kształtach.
[gdlr_divider type=”solid” size=”100%” ]
[gdlr_frame type=”border” align=”left” caption=”Skaner optyczny 3D GOM compact scan Atos „] [gdlr_image_link type=”image” image_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2021/05/TechnikISystemowPomiarowych-2-scaled.jpg” alt=” ” link_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2021/05/TechnikISystemowPomiarowych-2-scaled.jpg” target=”_blank” width=”100%”][/gdlr_frame]
Służy do pomiarów i odtwarzania kształtów części o bardzo złożonych krzywoliniowych kształtach.
[gdlr_divider type=”solid” size=”100%” ]
Pozostałe wyposażenie:
- Przenośne współrzędnościowe ramię pomiarowe FaroArm Fusion
- Elektroniczny mikroskop pomiarowy OVM JVT-250
- Cyfrowy projektor profili Sinpo JT-300
- Profilografometr CVR-R190
- Długościomierz Abbego JD2A
Tematy przykładowych ćwiczeń laboratoryjnych:
- Pomiar dokładności geometrycznej wałków
- Pomiar dokładności geometrycznej otworów
- Pomiar łuków zewnętrznych i wewnętrznych
- Pomiary kątów zewnętrznych i wewnętrznych
- Sprawdzanie dokładności narzędzi pomiarowych
- Pomiar chropowatości powierzchni
- Pomiar walcowych gwintów zewnętrznych
- Pomiar kół zębatych
- Pomiar narzędziami elektronicznymi – badanie zdolności systemu pomiarowego
- Zastosowanie długościomierza Abby’ego w pomiarach
- Pomiar z zastosowaniem skanera pomiarowego
- Pomiar z zastosowaniem współrzędnościowej maszyny pomiarowej Contura 2
[gdlr_frame type=”border” align=”left” caption=”Alicona InfiniteFocusG5 „] [gdlr_image_link type=”image” image_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2020/06/1-81.jpg” alt=” ” link_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2020/06/1-81.jpg” target=”_blank” width=”100%”][/gdlr_frame]
System optyczny służący do pomiarów 3D, łączący funkcjonalność maszyn współrzędnościowych i urządzeń do pomiaru powierzchni. Zasada działania opiera się na mikroskopii różnicowania ogniskowego. Umożliwia zaawansowane pomiary geometrii, profilu i chropowatości. Urządzenie pozwala zbierać duże ilości (do kilkudziesięciu milionów) punktów pomiarowych w stosunkowo krótkim czasie. Możliwe jest również określenie niepewności pomiaru dla każdego zebranego punktu 3D. System cechuje wysoka rozdzielczość pionowa, nawet do 10 nm (w zależności od zastosowanego obiektywu). Do typowych zastosowań systemu można zaliczyć m.in. pomiary zużycia narzędzi skrawających, kontrola precyzyjnych części wytwarzanych w branżach automotive, przemyśle lotniczym czy technologii medycznej.
[gdlr_divider type=”solid” size=”100%” ]
[gdlr_frame type=”border” align=”left” caption=”Polytec TopMap Metro.Lab „] [gdlr_image_link type=”image” image_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2020/06/1-90.jpg” alt=” ” link_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2020/06/1-90.jpg” target=”_blank” width=”100%”][/gdlr_frame]
Precyzyjny interferometr światła białego o szerokim pionowym zakresie pomiarowym i rozdzielczości pomiaru rzędu nanometrów. Umożliwia wykonywanie bezkontaktowych pomiarów płaskości, równoległości i różnicy wysokości dużych powierzchni. Szczególne zastosowanie znajduje przy pomiarze głębokości otworów o bardzo małej średnicy. Jako metoda bezkontaktowa pozwala mierzyć elementy wykonane z miękkich, delikatnych materiałów ulegających odkształceniom w przypadku wykonywania pomiarów metodami stykowymi.
[gdlr_divider type=”solid” size=”100%” ]
[gdlr_frame type=”border” align=”left” caption=”Reinshaw Equator 300 „] [gdlr_image_link type=”image” image_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2020/06/1-78.jpg” alt=” ” link_url=”http://csi.panschelm.edu.pl/wp-content/uploads/2020/06/1-78.jpg” target=”_blank” width=”100%”][/gdlr_frame]
[gdlr_divider type=”solid” size=”100%” ]